涂镀层测厚仪性能影响因素包括以下一些：
a 基体金属磁性质

　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。

　　b 基体金属电性质

　　基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

　　c 基体金属厚度

　　每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。涂镀层测厚仪大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。

　　d 边缘效应

　　涂镀层测厚仪对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

　　e 曲率

　　试件的曲率对测量有影响。超声波测厚仪这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

　　f 试件的变形

　　测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。